* 一般測試環(huán)境下；變溫速率可調(diào)節(jié)

inTEST Temptronic 高低溫沖擊測試機(jī)功能特點(diǎn)：
與友廠對比，inTEST ThermoStream 獨(dú)有的專利自動(dòng)復(fù)疊式制冷系統(tǒng)(auto cascade refrigeration)保證低溫，內(nèi)置 AC 交流壓縮機(jī)，冷凍機(jī)(Chiller)特殊設(shè)計(jì)，制冷劑不含氟利昂、安全無毒、不易燃，有效保護(hù)環(huán)境；專利 ESD 防靜電保護(hù)設(shè)計(jì)
旋鈕式控制面板，支持測試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)。
過熱溫度保護(hù)：出廠設(shè)置溫度 +230°C
加熱模式下，冷凍機(jī)可切換成待機(jī)模式，以減少電力消耗
干燥氣流持續(xù)吹掃測試表面，防止水氣凝結(jié)

與傳統(tǒng)高低溫測試箱、溫濕度測試箱對比，inTEST ThermoStream 高低溫測試機(jī)主要優(yōu)勢：
1、變溫速率更快
2、溫控精度：±1℃
3、實(shí)時(shí)監(jiān)測待測元件真實(shí)溫度，可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度
4、針對PCB電路板上眾多元器件中的某一單個(gè)IC(模塊)，可單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件
5、對測試機(jī)平臺load board上的IC進(jìn)行溫度循環(huán) / 沖擊；傳統(tǒng)高低溫箱無法針對此類測試。
6、對整塊集成電路板提供精確且快速的環(huán)境溫度。

inTEST 高低溫測試方法：提供兩種檢測模式 Air Mode 和 DUT Mode
通過熱流罩或測試腔將被測 IC 與周邊環(huán)境隔離，然后對 IC 循環(huán)噴射冷熱氣流，使IC 溫度短時(shí)間發(fā)生急劇變化，從而完成溫度循環(huán)和溫度沖擊的測試。

inTEST 高低溫沖擊測試機(jī) ATS-545-M 尺寸

寬61x深72.4 x高 108 cm
重量 365 kg
手臂延展最大 160 cm
標(biāo)準(zhǔn)最高操作高度 130.3 cm;(可選188 cm)
標(biāo)準(zhǔn)最低操作高度 69.1 cm;(可選81.3 cm)
噪音 < 65 dBA